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  • Chiptestx DRAM BIB发布

    Chiptestx宣布新的大尺寸高密BIB用于高容量、成本敏感型DRAM的老化测试。

    넶63 2023-02-25
  • 存储器最新发展路线图

    无论是否采用 EUV光刻机用于 DRAM 单元图案化,DRAM 单元 D/R 可能能够进一步缩小到 12 纳米以下或更高。

    넶47 2022-11-28
  • Chiptestx宣布新的大功率老化系统CYC-830正式上市

    上海启泰沣华(Chiptestx)于2022年8月15日推出了新的大功率老化系统CYC-830,该系统主要用于大功率SOC器件的老化测试。

    넶83 2022-08-15

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