高速高低温全功能老化测试设备：CYC-540
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通用老化测试设备主要通过BIST（Built-in Self-Test）或者低速接口对储存芯片做老化测试，无法覆盖DUT（被测器件）高速接口和正常应用中的高速读写。Cyclone系列CYC-540产品系支持高低温的同时，还支持高速接口的测试，例如UFS HS-G3的5.8Gbps、eMMC5.1的400Mbps、以及NAND FLASH的ONFI标准的400Mbps。非常适合可靠性实验室长期压力测试和车规芯片的量产测试。 |
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高速高低温全功能老化测试设备
特性
高速接口
通过先进的近距离信号连接架构，支持UFS2.2的5.8Gbps、eMMC的400Mbps、NAND Flash的400Mbps接口速率。
高度温度均匀性
通过独特的独立DUT风道设计，支持DUT发热带载条件下的高度温度均匀性。
高性能数据处理
通过独特的FPGA/ALPG架构，支持高带宽的随机/固定数据以及种子的高速数据生成和比对分析。
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目标器件 |
UFS/eMMC/NAND |
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并测数 |
系统 |
UFS/eMMC/NAND: 960pcs @ 12Slot BIB |
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单板 |
UFS/eMMC/NAND: 80pcs |
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最大信号频率 |
UFS: 5.8Gbps |
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协议标准 |
UFS: UFS2.1/UFS2.2 |
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应用功能 |
NAND: BBM/DBM/CFM等数据分析统计。 |
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温度范围 |
-10℃ ~ +150℃ -40℃ ~ +150℃ (Optional) |
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系统尺寸 [mm] |
2500(W)x1700(D)x2600(H) |
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