存储芯片测试系统：HON-540

 存储芯片测试系统

HON-540 系列主要针对存储芯片的前道晶圆测试（Chip Probe）和后道封装测试（Final Test）的全功能测试需求，是一款极具性价比的CP/FT ATE。该系列采用了独立的信号驱动板卡和独立的可编程电源板卡，可以根据DUT特征，进行灵活合理的配置，实现极高的测试性价比。