高速存储芯片测试系统：HON-640

 高速存储芯片测试系统

随着手机、笔记本等终端市场和大容量FLASH的快速发展，UFS和BGA SSD等高速接口器件飞速发展。HON-640系列针对高速接口存储器件，采用了独特的PPB（Protocol Process Board）设计，支持高达16Gbps的信号接口，也可支持UFS和BGA SSD的灵活切换，是一款高性能的FT ATE设备。