大功率老化测试系统：CYC-830
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CYC-830 系列定位于MCU器件的老化测试解决方案，通过DUT独立温控系统，可支持高达100W+器件的精密温控和老化测试。同时支持高速接口的向量测试模式。 |
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大功率老化测试系统
特性
独立温控
通过先进的多种散热设计方式，支持100W+器件的独立温控。
高并测数
高度稳定的电源
针对DUT的低压大电流应用特性，优秀的电源设计，确保大电流应用下的高度电压精度和大动态需求。
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目标器件 |
MCU |
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并测数 |
系统 |
128pcs @ 8Slot BIB |
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单板 |
8pcs (Per Slot) |
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最大信号频率 |
400MHz/800Mbps |
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向量深度 |
64M |
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信号通道数 |
64 ch / Slot |
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温度范围 |
-40 ~ 150℃ |
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系统尺寸 [mm] |
2600(W)x1950(D)x2400(H) |
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