SSD测试系统：HON-620
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HON-620 系列定位于SSD器件的集成测试解决方案，可支持多种规格的SSD，最大速率支持PCIE Gen4，协议支持NVMe和AHCI。同时集成温控系统，可支持企业级的SSD模组高规格压力测试。 |
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SSD测试系统
特性
高速物理接口
通过优化信号路径，当前支持16Gbps（PCIE Gen4）。该物理架构未来可支持到32Gbps（PCIE Gen5）。
高并测数
支持协议
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目标器件 |
SSD |
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并测数 |
256 pcs / System |
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最大信号频率 |
PCIE: ~16Gbps |
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协议标准 |
NVMe、AHCI |
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模组接口 |
2.5inch SATA、M.2、U.2、PCIE卡等 |
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应用功能 |
Workload压力测试, IOPS性能测试, NVMe/AHCI协议测试等 |
