SOC芯片测试系统：KUN-200
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KUN-200系列定位于数字模拟混合测试。KUN-200系列采用模块化架构，可根据应用需求，灵活配置对应的数字IO、模拟、电源等板卡。该系统扩展能力强，针对DUT的快速演变，可有效延长设备生命周期和保护资产投入。 |
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SOC芯片测试系统
特性
测试效率高
系统采用独立板卡控制设计，测试任务可以分布式执行。
配置灵活性高
开发工具丰富
用户界面友好，并且支持开发工具包（SDK），可高效开发测试应用。
调试工具齐全
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KUN-200系列定位于数字模拟混合测试。KUN-200系列采用模块化架构，可根据应用需求，灵活配置对应的数字IO、模拟、电源等板卡。该系统扩展能力强，针对DUT的快速演变，可有效延长设备生命周期和保护资产投入。 |
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特性
测试效率高
系统采用独立板卡控制设计，测试任务可以分布式执行。
配置灵活性高
开发工具丰富
用户界面友好，并且支持开发工具包（SDK），可高效开发测试应用。
调试工具齐全
