SOC老化测试系统：CYC-304L
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CYC-304系列定位于低速的SOC老化测试解决方案，IO支持10MHz/20Mbps速率，主要通过BIST（Built In Self Test）进行老化测试。该系统温箱支持4个zone，其中2个zone支持高低温，2个zone支持高温。非常适合车规SOC器件进行可靠性测试。 |
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SOC老化测试系统
特性
高度温度均匀性
单个ZONE的slot数量仅为4，可针对风道和温度控制进行优化，实现DUT的高度温度均匀性。
支持超低温
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目标器件 |
SOC |
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并测数 |
系统 |
5120 @ 16Slot |
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单板 |
320pcs, max. |
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最大信号频率 |
10MHz/20Mbps |
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时钟 |
频率范围：100ns~1us；颗粒度: 625ps |
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信号通道数 |
200DR + 144IO (Per Slot) |
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温度范围 |
2*zone：RT ~ 150℃ |
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