显示驱动芯片测试系统：KUN-300
|
KUN-300 系列定位于显示驱动芯片的测试解决方案。该系统既能满足传统LCD、LED的需求，还可扩展支持未来的uLED需求。其良好的扩展性，还可配合AOI等光学设备实现全自动的测试系统。 |
|
显示驱动芯片测试系统
特性
支持下一代显示驱动芯片
支持未来的uLED需求，支持MIPI协议的D-PHY接口和对应应用协议。
高速物理接口
通过单独的协议板卡，可支持D-PHY协议标准。信号速率最高支持4.5Gbps+。
高效向量开发工具
|
目标器件 |
LCD、LED、uLED |
|
最大信号频率 |
差分信号：4.5Gbps+ （可覆盖D-PHY2.0） 单端数字IO：800Mbps |
|
并行测试 |
最大支持8颗芯片同时测试，并支持扩展 |
|
应用功能 |
数字向量测试，DFT模式测试，DC参数测量等 |
